納米粒度及zeta電位儀
NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻

外部環(huán)境：

電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz

環(huán)境要求：溫度，10-35°C

國際標準：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特點：

• 采用先進的動態(tài)光散射技術，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法

• “Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應產生微電場，測量同一體系的Zeta電位， 避免樣品交叉污染與濃度

• 異相多譜勒頻移技術，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性。

• 可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。

• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

• 快速傅利葉變換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間。

• 膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。

• 無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得到分析結果

• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。